LBTEK 剪切干涉仪由45°放置的楔形棱镜和观察板组成，其中楔形棱镜的材质为紫外熔融石英，观察板为一片中间刻有参考线的散射片。每个楔形棱镜的楔角针对其可测量的光束尺寸进行了优化，具体角度可查看规格参数。散射片用于观察光束经过楔形棱镜前后两个表面菲涅尔反射产生的干涉条纹，当入射光束的偏振方向垂直于入射面（入射光线与剪切板法线构成的平面）时产生的条纹强度最大。需要注意的是只有激光束的相干长度大于由楔形棱镜产生的光程差才可以观察到干涉条纹，楔形棱镜产生的近似光程差ΔOPL在各个产品的规格参数中可以查看。LBTEK 剪切干涉仪可用于定性分析光束的准直性，如有其它问题，请联系LBTEK 技术支持。
剪切干涉仪
本文介绍的剪切干涉仪又称为准直度测量仪，可以用来定性的分析激光束的准直性，也可以用来定量的计算加光束的发散角。本文所述剪切干涉仪由带有微小楔角的楔形平板、观察板以及机械件组成。
1. 工作原理
如图1所示为剪切干涉仪工作原理示意图，激光器发射的激光束经过扩束透镜组后入射至楔形平板，楔形平板前后两个表面反射的光在观察板处发生干涉，通过观察干涉条纹可以判断出入射光束的准直度以及波前分布。如图2所示为入射光束平行、发散、会聚时的干涉条纹，当入射光束发散或会聚时，干涉条纹较平行时的干涉条纹发生偏转。
图1 剪切干涉仪工作原理示意图
图2 平行、发散、会聚光束的干涉条纹示意图
2. 发散角计算公式
如式（1）和式（2）所示为激光束的波面的曲率半径R和发散角θ的计算公式，其中S为剪切量，d为观察板上的条纹周期，α为干涉条纹倾角，D为观察板上光斑的直径。
图3 发散角测量参数示意图
3. 相干长度
实际使用的单色光源都有一定的光谱宽度Δλ，光谱宽度为Δλ的光源能够产生干涉的最大光程差即为相干长度ΔL。
LBTEK的剪切干涉仪标有光程差近似值ΔOPL，为了确保可以发生干涉，请检查使用光源的相干长度是否大于剪切干涉仪造成的近似光程差。
LBTEK 剪切干涉仪由45°放置的圆形楔形棱镜和观察板组成，可以定性地分析光束的准直性。根据剪切板的不同，分为适用光束直径1 mm-3 mm、2.5 mm-5 mm、5 mm-10 mm和10 mm-25.4 mm4款，如有其它需求请联系LBTEK 技术支持。
注意事项：TSI100和TSI254型剪切干涉仪因剪切板光学元件较厚，其后表面会凸出安装基板平面，因此在进行剪切板安装或拆卸操作时，请沿轴向平稳移动，避免与相邻组件发生碰撞。特别当系统已装配TSICP/TSICP-SM1笼式转接板时，建议先移除外围器件再操作剪切板组件。
LBTEK 剪切板所用楔形棱镜的楔角根据不同的光束直径进行了优化，具体的楔角角度可在下面参数中查看。剪切板采用了磁性安装设计，减少了繁琐的更换流程，可以实现快速更换。根据适用光束直径，将剪切板分为1 mm-3 mm、2.5 mm-5 mm、5 mm-10 mm和10 mm-25.4 mm4款，如有其它需求，请联系LBTEK 技术支持。
注意事项：TSIP100和TSIP254型剪切板因光学元件较厚，其后表面会凸出安装基板平面（如右图所示）。因此在进行剪切板安装或拆卸操作时，请沿轴向平稳移动，避免与相邻组件发生碰撞。
LBTEK 提供的剪切干涉仪放大观察系统可以增大小孔径光束的干涉条纹，方便判断该光束的准直性。LBTEK 也单独提供该放大观察系统的安装板，该安装板具有SM1内螺纹，可以兼容所有LBTEK 具有SM1螺纹的组件。
LBTEK 提供含观察屏和不含观察屏两款同轴系统转接板，含观察屏的可以直接观察干涉条纹；不含观察屏的同轴系统转接板具有SM1内螺纹，可以集成其它观察系统。如有其它需求，请联系LBTEK技术支持。
| 产品型号 | 波长 | 当前波长(nm) | 当前透射率(%) |
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