• 测量范围0~200 mm
• 测量精度可达±0.02 mm
• 带有拇指调节滚轮
• 可用手拧螺丝锁定卡尺位置

LBTEK 数字游标卡尺具备3种测量方式，可测量光学器件长度、宽度、厚度、外径、内径、内宽、深度等公制尺寸。量程可至200 mm。量爪由硬质合金材料制成，带有调节滚轮，易于操作，除刻度外还具备数显表头，方便读数。

• 测量范围0~12.7 mm
• 测量精度可达0.003 mm
• 带有SPC数据输出

LBTEK数字指示器是用于检测平台位置及面包板或光学平台平整度的量具，测量单位为公制型，具备易于读数的数显界面，量程可达12.7 mm。在测量工件的时候需要施加一个力（测量力），使得被测要素与量具的测量点紧密接触。该产品具备SPC输出端连接到PC。但不包含SPC电缆。

• 测量范围0~25 mm
• 测量精度可达±0.002 mm
• 达到IP65防护等级的球面-平面型数显千分尺
• 带有恒定测力的装置

LBTEK 测微计是一种精密的测量工具，带有线性编码数字读数界面，公制型，手拧螺丝可锁定测微计位置，可精确测量几乎所有材料的厚度，具备较高的分辨率，量程可达25 mm。测量面采用硬质合金材料，是一种达到IP65防护等级的球面-平面型数显千分尺。