USAF 1951分辨率测试靶

         光学成像系统的分辨本领指该系统能否分开两个靠近的点或物体细节的能力，通常以每毫米可以识别的线对数（lp/mm）来表示光学成像系统分辨率的大小。线对由一条黑线和一条白线组成，光学成像系统能分辨的每毫米线对数越多，分辨能力越好，分辨率越大。如图1所示为光学成像系统最大分辨率示意图，上边线对的线宽和线距较小，成像系统无法分辨；下边线对的线宽和线距有所增加，成像系统正好分辨，该线对对应的每毫米线对数即为成像系统的最大分辨率。

图1 光学成像系统最大分辨率示意图

         LBTEK USAF 1951分辨率测试靶包含6组线距与线宽相等的线对集，每组线对包含6个不同的元素（水平线对和垂直线对）。如图2所示为USAF 1951分辨率测试靶部分线对在显微镜下的图片，该测试靶采用3条线一个集合，有效减小了伪分辨率发生的概率。伪分辨率是指线对集通过成像光学系统成像后，像太模糊重叠部分形成了更清晰的线，线的条数减少，从而影响对成像系统分辨率的判断。

图2 USAF 1951分辨率测试靶部分线对在显微镜下的图片

         图2中面积最大的数字“4”代表该组的组号，该组包含1至6六种不同的线对集，USAF 1951分辨率测试靶的十组线对的分辨率如表1所示，该表数据可由下列公式计算得出。

\[ 分辨率=2^{组号+（元素号-1)/6} \]

表1 USAF 1951分辨率测试靶的十组线对的分辨率（lp/mm）