LBTEK 组合测试靶由多种测试靶的图案组合而成,从而测试范围非常广泛,常用于测试成像系统的成像质量。正分辨率测试靶在基底上镀铬图案,适用于前照和一般应用;负分辨率测试靶在基底上镀铬使图案部分透光,适用于背照和高亮照明。LBTEK 提供分辨率测试靶的定制服务,如有其它需求,请联系LBTEK 技术支持。
光学元件材质
钠钙玻璃
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厚度公差
±0.2 mm
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线缝公差
±0.5 μm
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表面平整度
≤15 μm
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分辨率靶应用案例
分辨率检测
系统空间分辨率用分辨率靶进行测量。在待测光学系统的物方上放置分辨率靶,在定焦镜头的物方放置待测光学系统,在定焦镜头的像方用CCD观察,能将分辨率板最小栅格四个方向上的条纹看清楚,记下分辨率单元号和组号,再查表找到相应空间频率N0。
分辨率测试光路
被测光学系统的空间分辨率N可表示为
\( N=N_0×f_0/f \)
上式中,f0为定焦镜头的焦距,f为被测光学系统的焦距。
USAF 1951分辨率测试靶部分线对的图片
LBTEK 的同心圆和十字线网格靶是以17行和17列组成的289个独立网格,289个网格均匀分布于中间50.8×50.8 mm的位置。每个网格由不同尺寸的四个同心圆图案和五个十字线图案组成,每个同心圆图样具有七种不同半径,每个十字线图样具有一个或两个十字。LBTEK 同心圆和十字线网格靶可用来测量系统分辨率、畸变和放大率,正分辨率测试靶在基底上镀铬图案,适用于前照和一般应用;负分辨率测试靶在基底上镀铬使图案部分透光,适用于背照和高亮照明。如有其它定制需求,请联系技术支持。
产品型号 | 镀膜 | 单价 | 对比 | 发货日期 | |||
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RTS3Ee-P | 铬(测试图案镀膜) | ¥3736 | 1周 |
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RTS3Ee-N | 铬(测试图案透光,其余部分镀膜) | ¥3593 | 当天 |
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LBTEK RTR1Ee测试靶是适用多种测试的组合测试靶,包含一个1951 USAF图案(2到7组)、一个扇形星图案、一个同心圆图案、三个网格图案(100 µm、50 µm和10 µm)以及朗奇刻线图案(30到150 lp/mm)。可用于成像系统成像质量的评估(分辨率、场曲、聚焦误差、像散、图像畸变等)。正分辨率测试靶在基底上镀铬图案,适用于前照和一般应用;负分辨率测试靶在基底上镀铬使图案部分透光,适用于背照和高亮照明。如有其它定制需求,请联系技术支持。
产品型号 | 镀膜 | 单价 | 对比 | 发货日期 | |||
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RTR1Ee-N | 铬(测试图案透光,其余部分镀膜) | ¥3626 | 当天 |
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RTR1Ee-P | 铬(测试图案镀膜) | ¥3626 | 当天 |
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产品型号 | 波长 | 当前波长(nm) | 当前透射率(%) |
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